絕緣電阻測(cè)試儀的電壓范圍和電阻量程是大部分工程師都會(huì)關(guān)注的參數(shù)，因?yàn)樵谶M(jìn)行絕緣測(cè)試時(shí)，選擇正確的測(cè)試電壓和電阻量程，可以保證測(cè)試的安全性，獲得更準(zhǔn)確的測(cè)試值。

　　

　　其實(shí)，還有一個(gè)參數(shù)對(duì)測(cè)試結(jié)果同樣有著很大影響，卻經(jīng)常容易被使用者忽略，它就是—短路電流。短路電流在絕緣電阻測(cè)試時(shí)發(fā)揮著什么樣的作用呢？我們先從絕緣測(cè)試的原理說起：

　　

　　簡單來說，絕緣電阻就是通過測(cè)量對(duì)被測(cè)設(shè)備施加電壓時(shí)流過設(shè)備的漏電流，再利用歐姆定律計(jì)算得到的值。但實(shí)際上，絕緣測(cè)試測(cè)量的【漏電流I總】由三個(gè)部分組成：

　　

　　1、I1電容電流：在加壓過程中，相當(dāng)于給被測(cè)設(shè)備的電容充電，初始充電階段，電容電流較大，而后，電容電流將隨著充電完成而衰減至零。

　　

　　2、I2吸收電流：在加壓瞬間到穩(wěn)定過程中，由于介質(zhì)極化，電荷重新排列時(shí)形成的電流，也會(huì)隨著穩(wěn)定而衰減至零。

　　

　　3、I3泄漏電流：由于絕緣不良而產(chǎn)生的電流，一般維持不變，也是絕緣測(cè)試中關(guān)鍵的參數(shù)。

　　

　　在加壓初期，例如15s時(shí)，I1和I2的存在將會(huì)使整體的【漏電流I總】增大，從而導(dǎo)致測(cè)得的R15s比實(shí)際值小，無法體現(xiàn)真實(shí)阻值，并且過小的R15s也會(huì)使介質(zhì)吸收比R60S/R15S嚴(yán)重偏大，使工程師造成誤判。

　　

　　絕緣電阻測(cè)試儀的輸出短路電流的大小可反映出其內(nèi)部輸出高壓源內(nèi)阻的大小。較大的短路電流可以使電容充電過程更快，更早達(dá)到穩(wěn)定。因此，電容電流I1和吸收電流I2會(huì)越快衰減至零，減少影響，然后得到的阻值也越接近于真實(shí)絕緣阻值。