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回路電阻測(cè)試儀的應(yīng)用和選擇

更新時(shí)間: 2012-12-24  點(diǎn)擊次數(shù): 1978次

回路電阻測(cè)試儀的應(yīng)用和選擇


回路電阻測(cè)試儀的應(yīng)用和選擇


一、 電力系統(tǒng)許多大電流電氣設(shè)備在預(yù)防性試驗(yàn)和交接試驗(yàn)中需要準(zhǔn)確測(cè)量回路的電阻值。斷路器是電力系統(tǒng)重要的電氣設(shè)備,國(guó)標(biāo)GB763、GB50150和電力行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)DL/T596對(duì)斷路器導(dǎo)電回路電阻的測(cè)量均作了規(guī)定:應(yīng)采用直流壓降法測(cè)量,電流不小于100A。

 

二、斷路器導(dǎo)電回路的電阻主要取決于斷路器的動(dòng)、靜觸頭間的接觸電阻。接觸回路電阻測(cè)試儀的存在,增加了導(dǎo)體在通電時(shí)的損耗,使接觸處的溫度升高,其值的大小直接影響正常工作時(shí)的載流能力,在一定程度上影響短路電流的切斷能力。因此,斷路器每相導(dǎo)電回路電阻值是斷路器安裝、檢修和質(zhì)量驗(yàn)收的一項(xiàng)重要數(shù)據(jù)。

 

三、接觸電阻的測(cè)量有許多種方法。日本學(xué)者Isao Minowa提出用超導(dǎo)量子器件測(cè)量接觸電阻,H.Archi提出利用電解槽法測(cè)量接觸電阻,波蘭學(xué)者Jerzy Kaczarek提出用三次諧波法測(cè)量接觸電阻,這些方法一般是在實(shí)驗(yàn)室條件下進(jìn)行電接觸研究所采用的方法。工程中,通常采用四端子法來(lái)測(cè)量實(shí)際觸點(diǎn)的接觸電阻。

 

四、以前,通常采用直流雙臂電橋測(cè)量斷路器的接觸電阻。但是,當(dāng)使用雙臂電橋進(jìn)行斷路器導(dǎo)電回路電阻的測(cè)量時(shí),由于雙臂電橋測(cè)量回路通過(guò)的是微弱的電流,難以消除電阻較大的氧化膜,測(cè)出的電阻示值偏大,但氧化膜在大的電流下很容易被擊穿,不妨礙正常電流通過(guò)。因此,測(cè)試采用直流壓降法測(cè)試時(shí),電流不得太小。

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